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在产品制造过程中,由于各种原因,零部件不可避免的会产生多种缺陷,如印制电路板上出现孔错位、划伤、断路、短路、污染等缺陷,液晶面板的基板玻璃和滤光片表面含有针1孔、划痕、颗粒、mura等缺陷,带钢表面产生裂纹、辊印、孔洞、麻点等缺陷,这些缺陷不仅影响产品的性能,严重时甚至会危害到生命安全,对用户造成巨大经济损失。
传统缺陷检测方法为人工目视检测法,目前在手机、平板显示、太阳能、锂电池等诸多行业,仍然有大量的产业工人从事这项工作。这种人工视觉检测方法需要在强光照明条件下进行,不仅对检测人员的眼睛伤害很大,且存在主观性强、和人眼空间和时间分辨率有限、检测不确定性大、易产生歧义、效率低下等缺点,已很难满足现代工业高速、高分辨率的检测要求。
根据成像方法的不同,AOI又可分为三维(3D)AOI和二维(2D)AOI,三维AOI主要用于物体外形几何参数的测量、零件分组、定位、识别、机器人引导等场合;二维AOI主要用于产品外观(色彩、缺陷等)检测、不同物体或外观分类、良疵品检测与分类等场合。
但对于大幅面或复杂结构物体的视觉检测,由于受到视场和分辨率(或精度)的相互制约,或生产节拍对检测速度有特殊的要求,单相机组成的AOI系统有时难以胜任,因此可能需要有多个基本单元集成在一起,协同工作,共同完成高难度检测任务。即采取一种多传感器成像、高速分布式处理的AOI系统集成架构。
自动光学检测的必要性:
涉及裸板电路板和组装电路板检测方法时,人工检测在一定程度上是有意义的。但是,因为人工检测无法深入到电路板内部,所以很难应用于现代电路板的检测。
目前,可靠、快速已经成为电子市场的关键词,而这正是自动光学检测擅长的。另外,自动光学检测有利于降低成本,并在早期阶段使问题暴露出来。这些优点都促使自动光学检测在电路板组装过程中受到了zui大程度的欢迎,得到了广泛的应用。
自动光学检测(automated optical inspection, AOI)技术,也称为机器视觉检测(machine vision inspection, MVI)技术或自动视觉检测(automated visual inspection, AVI)技术。在有些行业,如平板显示、半导体、太阳能等制造行业,AOI这一术语更加流行,被人知晓。但是AOI和MVI/AVI在概念和功能上还是有细微差别的。
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