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苏州英飞思科学仪器有限公司
主营：光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪
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XRF镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。
膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度
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第4年
