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x射线发生装置结构组成：
（1）X射线发生器 —— 产生X射线的装置；X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及各种保护电路等部分组成。
（2）测角仪 —— 测量角度2θ的装置；测角仪是X射线衍射仪测量中部分，用来测量衍射角。
（3）X射线探测器 —— 测量X射线强度的计数装置；计数器的主要功能是将X射线光子的能量转换成电脉冲信号。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器有正比计数器、闪烁计数器和位敏正比探测器。
（4）X射线系统控制装置 —— 数据采集系统和各种电气系统、保护系统。
什么是x射线发生装置
X射线衍射仪(X-ray diffractometer，XRD)是利用X射线衍射原理研究物质内部结构的一种大型分析仪器。令一束X射线和样品交互，用生成的衍射图谱来分析物质结构。它是在X射线晶体学领域中在原子尺度范围内研究材料结构的主要仪器，也可用于研究非晶体。由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序，只是在几个原子范围内存在着短程有序，故非晶体材料的XRD图谱为一些漫散射馒头峰。
x射线发生装置-涂层应用
现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层，X射线是研发，产品过程控制和不可缺少的分析技术。作为纳米技术研究，X射线衍射(XRD)和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。
x射线发生装置-地质,矿产
在研究行星进程和地球构造过程中，地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。X射线衍射仪分析技术如：小点激发，分布分析和无标定量分析，日渐成为地质研究及矿物学研究领域内的主要仪器。X射线衍射仪(XRD)可定量测量相组成。X射线衍射数据的Rietveld分析被认为是晶体相定量分析适合的方法。技术和经验为这些判定提供了一系列解决方案。
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第5年
