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手持光谱仪的原理
在XRF分析法中,从光发射管里发射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时,原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定,外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中,它们会释放出能量,我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如,铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所发射出来的X射线的数量或者密度,能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
造成手持式光谱仪系统误差的因素有哪些?
手持式光谱仪虽然本身测量准确度很高,但测定试样中元素含量时,所得结果与真实含量通常不一致,存在一定误差,并且受诸多因素的影响,有的材料本身含量就很低。
1、标样和试样中的含量和化学组成不完全相同时,可能引起基体线和分析线的强度改变,从而引入误差。
2、浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时,测出的数据会有所差别。
3、标样和试样的物理性能不完全相同时,激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。
4、未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时,混入未知合金元素而引入系统误差。
5、要消除系统误差,必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差,就需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
手持式光谱仪的*部件——X射线管
X射线管则主要是阳极靶材的选择。阳极靶材是X射线管中的*部件,通常有银,钨,铑三种选择。钨靶拥有较高的X射线光子计数,价廉物美,适合用于常规检测,包括铁,锰,铬,铜,锌等等;铑靶可以同时检测轻金属和重金属,适用于轻金属检测以及含铝的铜材检测;银靶则是专注于硫、氯的检测,整体检测效果要略逊色一些。
手持式光谱仪的检测对象:
使用手持式光谱仪牌号鉴定或其他定性分析
碎屑状或粉末状样品(必须具有导电性)
准确度要求一般的场合
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